本文標(biāo)題:掌握掃描電子顯微鏡進(jìn)行檢測中需要注意的幾點(diǎn)要求（之二）

信息分類:站內(nèi)新聞　新聞來源：未知發(fā)布時間：2015-10-31 10:15:55

掌握掃描電子顯微鏡進(jìn)行檢測中需要注意的幾點(diǎn)要求（之二）

④觀測試樣的范圍，對于微區(qū)的電場，及磁場的分布都

是可以的，還有熒光情況下的陰極，如果是半導(dǎo)體的，那

么就可以觀測到氧化膜保護(hù)下的試樣，

保護(hù)膜下的半導(dǎo)體也是可以觀測到的，還有其升溫和減

溫的過程，以及其試樣是否進(jìn)行過拉伸等動態(tài)的情況，

⑤如果需要對微區(qū)進(jìn)行分析的話，那么是可以結(jié)合電子

探針顯微鏡進(jìn)行詳細(xì)的分析，

⑥配置上電子通道的話，還可以對其附件和電子衍射的

附件一同對結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析，

⑦ 其使用的電子束流不大，這樣不會對試樣造成損傷，

還能夠?qū)ι镌嚇雍突瘜W(xué)纖維試樣進(jìn)行直接的觀測。

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