本文標題:偏光顯微檢測時的晶體接觸
信息分類:站內(nèi)新聞 新聞來源：未知 發(fā)布時間：2015-9-27 14:08:15
偏光顯微檢測時的晶體接觸
通常我們在使用偏光顯微鏡進行顯微檢測研究分析時，
則主要是根據(jù)兩個晶體物質(zhì)之間傾斜接觸進行的。
在進行接觸晶體之產(chǎn)間折射率大的面會比折射率小的晶
體之上，不會因為接觸面的平行光照射到接觸面從而進
入到介質(zhì)當中。
因此兩個相鄰的傾斜晶體物質(zhì)接觸面，則是概括了晶體
檢測表面上的突起與晶體單光偏振檢測晶體表面時發(fā)現(xiàn)
晶體的表面是光滑的。
而在這種情況下作偏光顯微檢測的晶體物質(zhì)，則是表面
顯得比較粗糙的呈現(xiàn)麻點的粗糙表面晶質(zhì)。
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